[发明专利]一种电能表用时钟芯片全性能测试系统及其方法

摘要

本发明提供一种电能表用时钟芯片全性能测试系统及其方法，系统包括测试模块、日计时误差测试仪和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试仪，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试仪测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。本发明可对时钟芯片进行测试，同时可对采用该时钟芯片的电能表整机进行测试，采用芯片测试座形式装入时钟芯片，避免了在测试中的芯片焊接，提高测试效率和测试成本；具有扩展性，可针对不同的芯片外接相应的测试板即可进行测试；可对时钟芯片可靠性进行评估，实现时钟芯片的寿命预计。

主权项

一种电能表用时钟芯片全性能测试系统，其特征在于：所述系统包括测试模块、日计时误差测试单元和温度试验箱；置于测试模块中的时钟芯片输出秒脉冲信号，所述测试模块将秒脉冲信号输入日计时误差测试单元，通过调节温度试验箱的温度，测试模块和日计时误差测试单元测试不同温度下的晶体振荡输出频率偏差和日计时误差。