[发明专利]用于过程监控的光学测量探针无效

专利信息
申请号: 201210459337.X 申请日: 2007-07-20
公开(公告)号: CN103018204A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: S.托什;R.格罗斯;M.布兰德;H.图普斯 申请(专利权)人: 拜尔技术服务有限责任公司
主分类号: G01N21/47 分类号: G01N21/47;G01N21/65;G01N21/64
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 杨国治
地址: 德国莱*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种用于过程监控的光学测量探针,具有设置在工艺装置部位里面的具有一个光进入孔的远端和一个耦联到评价装置上的近端,其中在测量探针的远端与近端之间设置一个杆,它在两个端部之间包括一个光导连接。该测量探针的特征是,使测量探针在其远端部位具有比杆和/或近端更小的外径。
搜索关键词: 用于 过程 监控 光学 测量 探针
【主权项】:
一种用于工业过程监控的光学测量探针(10),具有a)一个设置在工艺装置部位里面的具有一个光进入孔(12)的远端(11),b)一个耦联到评价装置上的近端(13),其中c)在测量探针的远端与近端之间设置一个杆(14),它在两个端部之间包括一个光导连接,其中,d)该测量探针在其远端部位(11)具有比杆(14)和/或近端(13)更小的外径,所述光导连接是光导纤维光导体或者光导体束,它们具有包覆以及柔性的金属加强件,其特征在于,所述光学测量探针(10)在远端部位没有柔性的金属加强件而是取而代之具有刚性的套。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于拜尔技术服务有限责任公司,未经拜尔技术服务有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210459337.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top