[发明专利]抗PWM光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法无效
| 申请号： | 201210459992.5 | 申请日： | 2012-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN102944303A | 公开（公告）日： | 2013-02-27 |
| 发明（设计）人： | 田口洋一;赵尚开;郭灿照 | 申请（专利权）人： | 创天昱科技(深圳)有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;H05B37/02 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 张明 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了提供一种抗PWM光源干扰的照度检测方法、装置及光源调整方法，其中抗PWM光源干扰的照度检测装置包括：接收模块，用于接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；检测模块，用于在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。本发明通过在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，即在PWM光源灭的时候对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度，避免了PWM光源亮的时候对环境的光照强度造成的影响，从而能够准确检测出环境中的光照强度。 | ||
| 搜索关键词： | pwm 光源 干扰 照度 检测 方法 装置 调整 | ||
【主权项】：
一种抗PWM光源干扰的照度检测方法，其特征在于，包括：接收PWM光源的脉宽调制PWM信号；在所述PWM信号低电平时对环境中的光照进行采样，并根据采样的光照得到环境中的光照强度；其中，所述PWM信号的周期为t，采样周期为T=nt，n为正整数。
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