[发明专利]自动回归测试的方法有效

专利信息
申请号: 201210462280.9 申请日: 2012-11-16
公开(公告)号: CN103823747B 公开(公告)日: 2017-09-15
发明(设计)人: 杨宁昕 申请(专利权)人: 上海华虹集成电路有限责任公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司31211 代理人: 戴广志
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种自动回归测试的方法,步骤一、回归启动及运行,根据项目具体情况,对不同种类测试向量的回归测试进行分类型分级别管理,针对层次化验证的不同阶段,分别选择进行模块级,子系统级或系统级回归测试,并产生常规信息文件和错误信息文件;步骤二、回归信息后处理,针对每种级别的回归测试结果进行统计分析,分别产生项目回归首页,包括项目信息和回归版本,覆盖率;产生模块或回归分类分页,包括模块分类类型列表及通过或失败的测试用例汇总;产生每个模块的详细回归结果分页,包括每个测试用例名称,仿真运行时间,随机次数,是否通过,失败类型统计,仿真结果常规信息文件索引。本发明可以提高设计验证流程效率及验证的完备性。
搜索关键词: 自动 回归 测试 方法
【主权项】:
一种自动回归测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、回归启动及运行,根据项目具体情况,对不同种类测试向量的回归测试进行分类型分级别管理,针对项目实际情况在层次化验证的不同阶段,分别选择进行模块级,子系统级或系统级回归测试;在回归测试运行后,产生常规信息文件和错误信息文件;步骤二、回归信息后处理,针对每种级别的回归测试结果进行统计分析,分别产生项目回归首页,包括项目信息和回归版本,覆盖率;产生模块分类分页或回归分类分页,包括模块分类类型列表及通过或失败的测试用例汇总;产生每个模块的详细回归结果分页,包括每个测试用例名称,仿真运行时间,随机次数,是否通过,失败类型统计,仿真结果常规信息文件索引;步骤一所述回归启动及运行采用如下方法实施,在项目开始前对项目进行归一化的参数配置,配置设计验证环境相关参数和变量,设置相关设计验证环境调用配置,通过单命令行或者周期性执行命令启动自动回归测试;调用版本管理工具命令同步设计验证环境及设计源代码,并记录相关项目回归版本号;根据启动命令行,进行回归测试类型分析,并根据回归测试类型分析结果选择进入相应回归测试类型;根据启动命令行和进入的回归测试类型,进行回归测试级别分析,并根据回归测试级别分析结果选择进入相应级别回归测试。
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