[发明专利]自动回归测试的方法有效
申请号: | 201210462280.9 | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN103823747B | 公开(公告)日: | 2017-09-15 |
发明(设计)人: | 杨宁昕 | 申请(专利权)人: | 上海华虹集成电路有限责任公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种自动回归测试的方法,步骤一、回归启动及运行,根据项目具体情况,对不同种类测试向量的回归测试进行分类型分级别管理,针对层次化验证的不同阶段,分别选择进行模块级,子系统级或系统级回归测试,并产生常规信息文件和错误信息文件;步骤二、回归信息后处理,针对每种级别的回归测试结果进行统计分析,分别产生项目回归首页,包括项目信息和回归版本,覆盖率;产生模块或回归分类分页,包括模块分类类型列表及通过或失败的测试用例汇总;产生每个模块的详细回归结果分页,包括每个测试用例名称,仿真运行时间,随机次数,是否通过,失败类型统计,仿真结果常规信息文件索引。本发明可以提高设计验证流程效率及验证的完备性。 | ||
搜索关键词: | 自动 回归 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种自动回归测试的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、回归启动及运行,根据项目具体情况,对不同种类测试向量的回归测试进行分类型分级别管理,针对项目实际情况在层次化验证的不同阶段,分别选择进行模块级,子系统级或系统级回归测试;在回归测试运行后,产生常规信息文件和错误信息文件;步骤二、回归信息后处理,针对每种级别的回归测试结果进行统计分析,分别产生项目回归首页,包括项目信息和回归版本,覆盖率;产生模块分类分页或回归分类分页,包括模块分类类型列表及通过或失败的测试用例汇总;产生每个模块的详细回归结果分页,包括每个测试用例名称,仿真运行时间,随机次数,是否通过,失败类型统计,仿真结果常规信息文件索引;步骤一所述回归启动及运行采用如下方法实施,在项目开始前对项目进行归一化的参数配置,配置设计验证环境相关参数和变量,设置相关设计验证环境调用配置,通过单命令行或者周期性执行命令启动自动回归测试;调用版本管理工具命令同步设计验证环境及设计源代码,并记录相关项目回归版本号;根据启动命令行,进行回归测试类型分析,并根据回归测试类型分析结果选择进入相应回归测试类型;根据启动命令行和进入的回归测试类型,进行回归测试级别分析,并根据回归测试级别分析结果选择进入相应级别回归测试。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹集成电路有限责任公司,未经上海华虹集成电路有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210462280.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:升降上下铺
- 下一篇:一种防止过度分离的人字梯