[发明专利]具有自包含式测试单元的半导体存储器件及其测试方法无效
| 申请号： | 201210465502.2 | 申请日： | 2012-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN103456366A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 全泰昊;郑畯燮;郑升炫 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 石卓琼;俞波 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种半导体存储器件，其被配置成利用随机数据模式在内部执行测试操作。半导体存储器件包括在板上控制逻辑的控制下操作的随机数据模式测试单元，所述板上控制逻辑也管理半导体存储器件的正常操作。控制逻辑响应于从外部器件接收的简单命令来控制半导体存储器件的测试操作。因此，测试时间会比在由外部器件完全控制测试时的测试时间少。而且，因为外部器件不需要管理随机数据模式，测试成本会比在外部器件控制下执行测试时的测试成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 包含 测试 单元 半导体 存储 器件 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体存储器件的测试方法，包括以下步骤：在所述半导体存储器件内部产生第一随机数据模式，并且将所述第一随机数据模式编程在所述半导体存储器件中；以及在所述半导体存储器件内部产生第二随机数据模式，并且比较所述第二随机数据模式和从所述半导体存储器件的存储器单元读取的数据模式。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱思开海力士有限公司，未经爱思开海力士有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210465502.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
