[发明专利]孔径公差测量的方法及其装置有效
| 申请号： | 201210466068.X | 申请日： | 2012-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN102927954A | 公开（公告）日： | 2013-02-13 |
| 发明（设计）人： | 陆雪松;王莹;薛芃;王攀;施慧慧 | 申请（专利权）人： | 余姚市博明威机械厂（普通合伙） |
| 主分类号： | G01B21/14 | 分类号： | G01B21/14 |
| 代理公司： | 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 | 代理人： | 胡小永 |
| 地址： | 315402 浙江省宁波市余姚*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种孔径公差精密的方法及其装置。本发明公开了一种孔径公差测量的方法，其中，包括以下步骤：（1）通过零位基准孔和锥形测量头设定零位移点，设定零位移点的位移值为L1；（2）移动测量头，使测量头插入到被测孔内并与被测孔接触，通过测量探头测得测量头的位移值为L2；（3）计算测量头的相对位移值，即：L3=L2—L1，其中，L3为测量头相对零位基准孔的相对位移值；计算被测孔孔径的公差值，即：α=L3×K，其中，α为公差值，K为测量头的锥度，以及与上述方法相对的装置。计算方法简便，能够快速的计算出被测孔的公差，计算精度达微米级；通过简单的装置实现精密测量目的，机械机构稳定，提高了测量的准确度，降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 孔径 公差 测量 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种孔径公差测量的方法，其特征在于：包括以下步骤：（1）通过零位基准孔和锥形测量头设定零位移点，设定零位移点的位移值为L1；（2）移动测量头，使测量头插入到被测孔内并与被测孔接触，通过测量探头测得测量头的位移值为L2；（3）计算测量头的相对位移值，即：L3=L2—L1，其中，L3为测量头相对零位基准孔的相对位移值；（4）计算被测孔孔径的公差值，即：α=L3×K，其中，α为公差值，K为测量头的锥度。
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