[发明专利]一种提高激光测距仪精度的方法无效

专利信息
申请号: 201210471891.X 申请日: 2012-11-20
公开(公告)号: CN103017729A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 王振兴 申请(专利权)人: 王振兴
主分类号: G01C3/00 分类号: G01C3/00
代理公司: 深圳市凯达知识产权事务所 44256 代理人: 刘大弯
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种提高激光测距仪精度的方法,包括如下步骤:S10:将环境对LD造成的影响进行补偿消除;S11:将环境对APD造成的影响进行补偿消除;其中,步骤S11中,首先获取APD的温度漂移系数,然后采用NTC对光敏元件的环境温度采样,得到一个温度值;根据APD的温度补偿的系数,计算出温度每上升一度,APD的偏置电压上升多少伏;最后控制升压电路,ADC采样电压给PWM控制升压电路,得到相应的偏置电压,再用APD温度补偿率补偿APD的偏压。通过对APD的温度漂移系数测量,对APD的放大对数进行补偿,让APD放大倍数在任何温度下,放大倍数一致,从而可以保障批量生产时,产品的一致性。
搜索关键词: 一种 提高 激光 测距仪 精度 方法
【主权项】:
一种提高激光测距仪精度的方法,包括半导体激光发射器LD和APD组成的发射和接收系统,其特征在于,包括如下步骤:S10:将环境对LD造成的影响进行补偿消除;S11:将环境对APD造成的影响进行补偿消除;其中,步骤S11进一步包括:S110:获取APD的温度漂移系数;S111:采用NTC对光敏元件的环境温度采样,得到一个温度值;根据APD的温度补偿的系数,计算出温度每上升一度,APD的偏置电压上升多少伏;S112:用单片机的PWM控制器控制升压电路,ADC采样电压给PWM控制升压电路,得到相应的偏置电压,再用APD温度补偿率补偿APD的偏压。
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