[发明专利]一种提高激光测距仪精度的方法无效
申请号: | 201210471891.X | 申请日: | 2012-11-20 |
公开(公告)号: | CN103017729A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 王振兴 | 申请(专利权)人: | 王振兴 |
主分类号: | G01C3/00 | 分类号: | G01C3/00 |
代理公司: | 深圳市凯达知识产权事务所 44256 | 代理人: | 刘大弯 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种提高激光测距仪精度的方法,包括如下步骤:S10:将环境对LD造成的影响进行补偿消除;S11:将环境对APD造成的影响进行补偿消除;其中,步骤S11中,首先获取APD的温度漂移系数,然后采用NTC对光敏元件的环境温度采样,得到一个温度值;根据APD的温度补偿的系数,计算出温度每上升一度,APD的偏置电压上升多少伏;最后控制升压电路,ADC采样电压给PWM控制升压电路,得到相应的偏置电压,再用APD温度补偿率补偿APD的偏压。通过对APD的温度漂移系数测量,对APD的放大对数进行补偿,让APD放大倍数在任何温度下,放大倍数一致,从而可以保障批量生产时,产品的一致性。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 激光 测距仪 精度 方法 | ||
【主权项】:
一种提高激光测距仪精度的方法,包括半导体激光发射器LD和APD组成的发射和接收系统,其特征在于,包括如下步骤:S10:将环境对LD造成的影响进行补偿消除;S11:将环境对APD造成的影响进行补偿消除;其中,步骤S11进一步包括:S110:获取APD的温度漂移系数;S111:采用NTC对光敏元件的环境温度采样,得到一个温度值;根据APD的温度补偿的系数,计算出温度每上升一度,APD的偏置电压上升多少伏;S112:用单片机的PWM控制器控制升压电路,ADC采样电压给PWM控制升压电路,得到相应的偏置电压,再用APD温度补偿率补偿APD的偏压。
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