[发明专利]光学系统和具有它的离线检测分析装置有效
申请号: | 201210472803.8 | 申请日: | 2012-11-20 |
公开(公告)号: | CN102980660A | 公开(公告)日: | 2013-03-20 |
发明(设计)人: | 张殿斌;刘南渤;陆爱民 | 申请(专利权)人: | 北京华夏视科图像技术有限公司 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46;G02B17/06;G01N21/25 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 贾玉姣;宋合成 |
地址: | 100091 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学系统和具有它的离线检测分析装置,光学系统包括:第一光源、第一反射镜、第一相机、第二光源、第二反射镜和第二相机,第一光源用于发出第一光线至目标物体。第一反射镜用于接收并反射目标物体反射的第一光线。第一相机用于接收第一反射镜反射的第一光线。第二光源用于发出第二光线至目标物体。第二反射镜用于接收并反射目标物体反射的第二光线。第二相机用于接收第二反射镜反射的第二光线。根据本发明实施例的光学系统,可减小第一光源与第一相机、第二光源和第二相机之间的成像光路体积,提高空间利用率,使得离线检测分析装置的体积减小,优化了离线检测分析装置的结构。 | ||
搜索关键词: | 光学系统 具有 离线 检测 分析 装置 | ||
【主权项】:
一种光学系统,其特征在于,包括:第一光源;所述第一光源用于发出第一光线至目标物体;第一反射镜,所述第一反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第一光线;第一相机,所述第一相机用于接收所述第一反射镜反射的所述第一光线;第二光源,所述第二光源用于发出第二光线至目标物体;第二反射镜,所述第二反射镜用于接收并反射所述目标物体反射的所述第二光线;和第二相机,所述第二相机用于接收所述第二反射镜反射的所述第二光线。
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