[发明专利]一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201210473542.1 申请日: 2012-11-21
公开(公告)号: CN102980534A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 姚恩涛;张明;游有鹏 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 杨楠
地址: 210016*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法,属于机械测量技术领域。本发明在隐蔽转轴端面上固定安装一平面反射镜,该平面反射镜镜面与隐蔽转轴端面垂直;用激光照射所述平面反射镜,并匀速旋转所述隐蔽转轴,利用面阵光电位置传感器采集平面反射镜反射的光点位置信号,光点位置信号在时间轴上的轨迹为一个弦;根据所述弦的高度与隐蔽转轴与端面垂直度之间存在的对应关系确定所述隐蔽转轴与端面垂直度,弦的高度越大,隐蔽转轴与端面垂直度越小。本发明还公开了一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量系统。本发明可对无法进行接触式测量的隐蔽转轴的端面垂直度进行快速准确测量,且结构简单,实现成本低廉。
搜索关键词: 一种 隐蔽 转轴 端面 垂直 接触 测量方法 系统
【主权项】:
一种隐蔽转轴与端面垂直度的非接触测量方法,其特征在于,在所述隐蔽转轴端面上固定安装一平面反射镜,该平面反射镜镜面与隐蔽转轴端面垂直;用激光照射所述平面反射镜,并匀速旋转所述隐蔽转轴,利用面阵光电位置传感器采集平面反射镜反射的光点位置信号,光点位置信号在时间轴上的轨迹为一个弦;根据所述弦的高度与隐蔽转轴与端面垂直度之间存在的对应关系确定所述隐蔽转轴与端面垂直度,弦的高度越大,隐蔽转轴与端面垂直度越小。
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