[发明专利]一种耐电晕聚酰亚胺薄膜陷阱分布计算方法无效
| 申请号： | 201210473987.X | 申请日： | 2012-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN103163400A | 公开（公告）日： | 2013-06-19 |
| 发明（设计）人： | 杜伯学;李杰;杜伟 | 申请（专利权）人： | 天津学子电力设备科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01N27/60 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300072 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： |
本发明专利涉及一种耐电晕聚酰亚胺薄膜陷阱分布计算方法，他包括：1.将待测试样在正负直流2-5kV电压下电晕5-30分钟；2.利用表面电位计测量试样表面电位；3.陷阱分布利用如下公式计算：Ec-Em＝kTln(vt) (1) |
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| 搜索关键词： | 一种 电晕 聚酰亚胺 薄膜 陷阱 分布 计算方法 | ||
【主权项】：
本发明专利涉及一种耐电晕聚酰亚胺薄膜陷阱分布计算方法，他包括：1.将待测试样在正负直流2-5kV电压下电晕5-30分钟。
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