[发明专利]垂直集成的图像传感器芯片及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201210480345.2 申请日: 2012-11-22
公开(公告)号: CN103426892A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 林政贤;洪丰基;杨敦年;刘人诚;陈思莹;王文德;许慈轩 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;孙征
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种器件包括背照式(BSI)图像传感器芯片,其包括设置在第一半导体衬底的正面上的图像传感器,以及位于第一半导体衬底正面上的包括多个金属层的第一互连结构。一种器件芯片与该图像传感器芯片接合。该器件芯片包括位于第二半导体衬底的正面上的有源器件,以及位于第二半导体衬底正面上的包括多个金属层的第二互连结构。第一通孔穿透BSI图像传感器芯片,从而连接位于第二互连结构中的第一金属焊盘。第二通孔穿透位于第一互连结构中的介电层,从而连接位于第一互连结构中的第二金属焊盘,其中,第一通孔和第二通孔电连接。本发明提供垂直集成的图像传感器芯片及其形成方法。
搜索关键词: 垂直 集成 图像传感器 芯片 及其 形成 方法
【主权项】:
一种器件,包括:背照式(BSI)图像传感器芯片,包括:第一半导体衬底;图像传感器,设置在所述第一半导体衬底的正面上;以及位于所述第一半导体衬底的正面上的第一互连结构,包括多个金属层;器件芯片,与所述图像传感器芯片接合,其中,所述器件芯片包括:第二半导体衬底;有源器件,位于所述第二半导体衬底的正面上;以及位于所述第二半导体衬底的正面上的第二互连结构,包括多个金属层;穿透BSI图像传感器芯片的第一通孔,与位于所述第二互连结构中的第一金属焊盘连接;以及穿透所述第一互连结构中的介电层的第二通孔,与位于所述第一互连结构中的第二金属焊盘连接,其中,所述第一通孔和所述第二通孔电连接。
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