[发明专利]低雷达散射截面金属支架总散射场计算方法有效
申请号: | 201210483297.2 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN102967774A | 公开(公告)日: | 2013-03-13 |
发明(设计)人: | 许小剑;陈鹏辉 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种低雷达散射截面金属支架总散射场计算方法,包括:计算得到金属端帽的第一总散射场;计算得到组合体的第二总散射场,其中,组合体包括金属支架及安装在金属支架顶端的金属端帽;根据第一总散射场和第二总散射场,计算得到金属支架的第三总散射场。本发明提供的低雷达散射截面金属支架总散射场计算方法,通过在金属支架顶端加装一个经过合理外形设计的低散射金属端帽,并从金属支架与端帽组合体的散射场中滤除金属端帽的散射场,得到金属支架的散射场,且该得到的金属支架的散射场模拟反映了真实目标测量状态下,目标安装在支架顶端时金属支架的散射场,为最终目标的RCS的精确测量提供了保证。 | ||
搜索关键词: | 雷达 散射 截面 金属支架 计算方法 | ||
【主权项】:
一种低雷达散射截面金属支架总散射场计算方法,其特征在于,包括:计算得到金属端帽的第一总散射场;计算得到组合体的第二总散射场,其中,组合体包括金属支架以及安装在所述金属支架顶端的金属端帽;根据所述第一总散射场和所述第二总散射场,计算得到所述金属支架的第三总散射场。
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