[发明专利]一种具有增益的紫外探测器结构及其制备方法无效
申请号: | 201210483359.X | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN102931272A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 白云;申华军;汤益丹;王弋宇;韩林超;刘新宇 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L31/112 | 分类号: | H01L31/112;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于SiC的具有增益的紫外探测器及其制备方法,该紫外探测器包括:半绝缘SiC衬底;在该半绝缘SiC衬底上外延生长的p型缓冲SiC外延层;在该p型缓冲SiC外延层上外延生长的n型SiC外延层;在该n型SiC外延层上外延生长的n+型SiC外延层;部分刻蚀该n+型SiC外延层至露出该n型SiC外延层从而在该n型SiC外延层表面形成的条状凹栅区;在该条状凹栅区两侧未被刻蚀的该n+型SiC外延层上形成的源漏区欧姆接触源极和漏极;在该条状凹栅区上形成的透明肖特基势垒栅极;以及在欧姆接触源极、漏极与透明肖特基势垒栅极之间形成的钝化介质层。本发明提出的SiC紫外探测器结构,不需加高的偏置电压就可以获得较高的增益,并能够避免由于雪崩引起的额外噪声。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 增益 紫外 探测器 结构 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种基于SiC的具有增益的紫外探测器,其特征在于,该紫外探测器包括:半绝缘SiC衬底;在该半绝缘SiC衬底上外延生长的p型缓冲SiC外延层;在该p型缓冲SiC外延层上外延生长的n型SiC外延层;在该n型SiC外延层上外延生长的n+型SiC外延层;部分刻蚀该n+型SiC外延层至露出该n型SiC外延层从而在该n型SiC外延层表面形成的条状凹栅区;在该条状凹栅区两侧未被刻蚀的该n+型SiC外延层上形成的源漏区欧姆接触源极和漏极;在该条状凹栅区上形成的透明肖特基势垒栅极;以及在欧姆接触源极、漏极与透明肖特基势垒栅极之间形成的钝化介质层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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