[发明专利]一种具有增益的紫外探测器结构及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210483359.X 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102931272A 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 白云;申华军;汤益丹;王弋宇;韩林超;刘新宇 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L31/112 分类号: H01L31/112;H01L31/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于SiC的具有增益的紫外探测器及其制备方法,该紫外探测器包括:半绝缘SiC衬底;在该半绝缘SiC衬底上外延生长的p型缓冲SiC外延层;在该p型缓冲SiC外延层上外延生长的n型SiC外延层;在该n型SiC外延层上外延生长的n+型SiC外延层;部分刻蚀该n+型SiC外延层至露出该n型SiC外延层从而在该n型SiC外延层表面形成的条状凹栅区;在该条状凹栅区两侧未被刻蚀的该n+型SiC外延层上形成的源漏区欧姆接触源极和漏极;在该条状凹栅区上形成的透明肖特基势垒栅极;以及在欧姆接触源极、漏极与透明肖特基势垒栅极之间形成的钝化介质层。本发明提出的SiC紫外探测器结构,不需加高的偏置电压就可以获得较高的增益,并能够避免由于雪崩引起的额外噪声。
搜索关键词: 一种 具有 增益 紫外 探测器 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
一种基于SiC的具有增益的紫外探测器,其特征在于,该紫外探测器包括:半绝缘SiC衬底;在该半绝缘SiC衬底上外延生长的p型缓冲SiC外延层;在该p型缓冲SiC外延层上外延生长的n型SiC外延层;在该n型SiC外延层上外延生长的n+型SiC外延层;部分刻蚀该n+型SiC外延层至露出该n型SiC外延层从而在该n型SiC外延层表面形成的条状凹栅区;在该条状凹栅区两侧未被刻蚀的该n+型SiC外延层上形成的源漏区欧姆接触源极和漏极;在该条状凹栅区上形成的透明肖特基势垒栅极;以及在欧姆接触源极、漏极与透明肖特基势垒栅极之间形成的钝化介质层。
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