[发明专利]LED测试装置、系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210483639.0 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102944826A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 刘岩;李永光;胡益民;曹广忠;敬刚;杨永刚;刘文斌;汤皎宁;张志甜;高文杰;袁文龙;张超;朱惠忠;梁荣;陆兆隆 申请(专利权)人: 深圳清华大学研究院
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/02
代理公司: 深圳市维邦知识产权事务所 44269 代理人: 王昌花
地址: 518000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种LED测试装置、系统及方法,LED测试装置包括连接并为待测LED试件供电的供电单元,LED测试装置还包括:用于承载LED试件的承载体;用于带动承载体及其上的LED试件振动的振动发生器;底面设有通孔的遮光罩,所述承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件;以及安装于遮光罩上并采集遮光罩内的漫反射光线以对LED试件的光学参数进行测量的测光仪。本发明实施例通过遮光罩底面设置通孔,承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件的技术手段,从而实现了在线实时检测LED试件的光、色及电等性能参数,避免因应力条件发生改变以及反复安装、拆卸LED试件而引入的测试误差。
搜索关键词: led 测试 装置 系统 方法
【主权项】:
一种LED测试装置,包括连接并为待测LED试件供电的供电单元,其特征在于,LED测试装置还包括:用于承载LED试件的承载体;用于带动承载体及其上的LED试件振动的振动发生器;底面设有通孔的遮光罩,所述承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件;以及安装于遮光罩上并采集遮光罩内的漫反射光线以对LED试件的光学参数进行测量的测光仪。
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