[发明专利]二次电源单粒子效应测试方法有效
| 申请号： | 201210483969.X | 申请日： | 2012-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN103837839A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;阳辉;陈宇;钟征宇;白桦;陈冬梅 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100089 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及电源单粒子效应测试技术领域，公开了一种二次电源单粒子效应测试方法，包括：S1、DSP处理模块在接收到控制信号之后，启动A/D转换模块和FPGA模块；S2、A/D转换模块采集被测二次电源所输入的电压信号，并将采集到的电压信号进行模数转换后输入FPGA模块；被测二次电源所输入的电压信号由单粒子照射所触发；S3、FPGA模块将接收到的电压信号进行处理，并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动，若是，则将接收到的电压信号输入到DSP处理模块；S4、DSP处理模块对接收到的信号进行处理之后发送给上位机进行显示。本发明能够有效地、灵敏地检测出高密度单粒子对二次电源的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 二次 电源 粒子 效应 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种二次电源单粒子效应测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、DSP处理模块在接收到控制信号之后，启动A/D转换模块和FPGA模块工作；S2、A/D转换模块采集被测二次电源所输入的电压信号，并将采集到的电压信号进行模数转换后输入FPGA模块；所述被测二次电源所输入的电压信号由单粒子照射所触发；S3、所述FPGA模块将接收到的电压信号进行处理，并根据处理后得到的信号判断被测二次电源所输入的电压信号是否有波动，若是，则将接收到的电压信号输入到DSP处理模块；S4、DSP处理模块对接收到的信号进行处理之后发送给上位机进行显示。
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