[发明专利]确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法在审

专利信息
申请号: 201210483971.7 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN103838945A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 王群勇;陈冬梅;阳辉;白桦;陈宇;钟征宇 申请(专利权)人: 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100089 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法,该方法包括:通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平,并计算辐射失效水平的对数ln(RFAILi)、对数平均值和标准差建立以样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间KTL(c,n,p),并获取单边置信区间值;根据式子计算器件分类判据值;PCC为器件分类判据值,即为辐射敏感器件抗辐射性能指标。本发明提供的方法对器件辐射响应不一致导致的评估不确定性进行更为精确的评价,并为型号任务的顺利完成提供保障。
搜索关键词: 确定 辐射 敏感 器件 性能指标 方法
【主权项】:
1.一种确定辐射敏感器件抗辐射性能指标的方法,其特征在于,该方法包括:S1、通过试验获取多个样本器件的辐射失效水平,计算辐射失效水平的对数ln(RFILi)、对数平均值和标准差S2、建立样本数n、置信度c和生存概率p的单边置信区间KTL(c,n,p),并获取单边置信区间值;S3、根据式子计算器件分类判据值;PCC值即为辐射敏感器件抗辐射性能指标。
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