[发明专利]基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置

摘要

本发明公开了一种基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置，该装置包括激光器（1），1×2光纤分束器（2），第一、第二、第三、第四光纤，相位调制器（4），第一、第二光纤准直器，合束透镜（6），分光棱镜（7），第一、第二显微物镜，数字相机（9），针孔（10），光电探测器（11），频响仪（12）和计算机（13）。本发明简化了相位调制器性能参数的测量；而且该测试装置能测量所有带有光纤接口的相位调制器；同时，该平台还具有能粗略估计和精确测量谐振频率的功能，在精度要求不高时，可通过数字相机观察远场光斑对比度简单快捷地获得谐振频率，在精度要求较高时，可通过分析计算光电探测器采集到的信号获得较精确的谐振频率。

主权项

一种基于光束相干合成的相位调制器性能参数测试装置，所述的相位调制器性能参数包括相移系数和谐振频率，其中所述的相移系数即施加单位电压时光束相位的改变量，其特征在于：包括激光器（1）、1×2光纤分束器（2）、第一、第二、第三、第四光纤（31、32、33、34）、相位调制器（4）、第一光纤准直器（51）、第二光纤准直器（52）、合束透镜（6）、分光棱镜（7）、第一显微物镜（81）、第二显微物镜（82）、数字相机（9）、针孔（10）、光电探测器（11）、频响仪（12）和计算机（13），所述的激光器（1）发出的一束光通过第一光纤（31）后经1×2光纤分束器（2）分成两路，一路光直接经过第二光纤（32）进入所述的第一光纤准直器（51），另一路光经过第三光纤（33）后通过相位调制器（4）接着再经过第四光纤（34）进入所述的第二光纤准直器（52），通过所述的第一光纤准直器（51）和所述的第二光纤准直器（52）生成的两束平行的准直光通过合束透镜（6）和分光棱镜（7）形成两个相同的远场干涉光斑，两个远场干涉光斑分别经第一显微物镜（81）放大后进入数字相机（9）和经第二显微物镜（82）放大后经过针孔（10）进入光电探测器（11），内置于计算机（13）的相移系数测量算法和谐振频率测量算法用来分析数字相机（9）和光电探测器（11）探测到的光斑信息，得到相位调制器（4）的相移系数和谐振频率。