[发明专利]一种芯片负性阻抗的检测电路和方法无效
| 申请号： | 201210501630.8 | 申请日： | 2012-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN103018561A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 鲁灿;王玉娟;谢车 | 申请（专利权）人： | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 竺路玲 |
| 地址： | 201616 上海市松*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种晶振负阻抗的检测电路和方法，通过在设置好频偏的待检测芯片的输入端和输出端之间串联可变的电阻及内阻小于该待检测芯片负性阻抗绝对值的检测晶振，给待检测芯片上电后，经过从小至大改变可变电阻阻值，当检测到待检测芯片从正常工作到不能正常工作时，记录下此时可变电阻的阻值，并利用检测晶振的内阻，得出该待检测芯片此时的负性阻抗，即精准的检测出该待检测芯片的驱动能力，进而选择最优的晶振，以提高系统后续运行的稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 阻抗 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片负性阻抗的检测电路，其特征在于，包括待检测芯片、可变电阻、检测晶振、第一电容和第二电容；所述待检测芯片的输出端通过所述第一电容接地，所述待检测芯片的输入端通过所述第二电容接地；所述待检测芯片的输出端依次通过所述可变电阻和所述检测晶振与所述待检测芯片的输入端连接。
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