[发明专利]可能的灌注缺陷的确定有效
| 申请号： | 201210509668.X | 申请日： | 2012-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN103040479A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | T·弗洛尔;B·施米特 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及用于在检查对象(P)的定义的被供血的组织区域(M)根据至少一个包括该组织区域的高能量图像数据组(HEB)和至少一个包括该组织区域的低能量图像数据组(NEB)确定可能的灌注缺陷(PD)的方法。根据高能量图像数据组(HEB)和低能量图像数据组确定虚拟的造影剂图像数据组(KB)。在虚拟的造影剂图像数据组内检测第一候选灌注缺陷区域(KKP)以及在另一个基于高能量图像数据组和/或低能量图像数据组的图像数据组(MB)内检测第二候选灌注缺陷区域(MKP)，比较第一候选灌注缺陷区域与第二候选灌注缺陷区域并确定可能的灌注缺陷。此外说明用于确定可能的灌注缺陷的图像分析装置(30)以及具有图像分析装置的计算机断层造影系统(1)。 | ||
| 搜索关键词： | 可能 灌注 缺陷 确定 | ||
【主权项】：
用于在检查对象(P)的定义的被供血的组织区域(M)内根据至少一个包括该组织区域的高能量图像数据组(HEB)和至少一个包括该组织区域的低能量图像数据组(NEB)确定可能的灌注缺陷(PD)的方法，具有下列步骤：‑根据高能量图像数据组(HEB)和低能量图像数据组(NEB)确定虚拟的造影剂图像数据组(KB)，‑在虚拟的造影剂图像数据组(KB)内检测第一候选灌注缺陷区域(KKP)，‑在另一个基于高能量图像数据组(HEB)和/或低能量图像数据组(NEB)的图像数据组(MB)内检测第二候选灌注缺陷区域(MKP)，‑比较第一候选灌注缺陷区域(KKP)和第二候选灌注缺陷区域(MKP)，并且根据该比较确定可能的灌注缺陷(PD)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司，未经西门子公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210509668.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电池组以及用于电池组的引线电极
- 下一篇：服务器
