[发明专利]开关寿命测试装置

摘要

一种开关寿命测试装置，包括开关测试工装和开关寿命测试监控电路，开关寿命测试监控电路包括供电模块、控制模块、多对待测开关接入点及与待测开关接入点对数量相等的发光二极管。供电模块接入外部电源为控制模块供电，将待测开关接入待测开关接入点并与发光二极管串联，控制模块为发光二极管提供工作电流，在测试过程中开关测试工装自动对待测开关进行闭合和断开操作，发光二极管会随着待测开关闭合或断开而发光或熄灭，当待测开关闭合，发光二极管却不发光时，统计待测开关的通断次数即为待测开关的使用寿命。本发明对于按键开关、单刀双掷开关等各种机械开关均适用，观察发光二极管便可以知道开关的导通性能的好坏，监测操作简单，测试效率高。

主权项

一种开关寿命测试装置，其特征在于，包括开关测试工装和开关寿命测试监控电路，所述开关测试工装用于自动对待测开关进行闭合和断开操作，所述开关寿命测试监控电路包括供电模块、控制模块、多对待测开关接入点及与待测开关接入点对数量相等的发光二极管；所述供电模块的输出端与所述控制模块连接，所述供电模块用于接入外部电源并由所述供电模块的输出端输出直流电为所述控制模块供电；每对所述待测开关接入点固定于所述开关测试工装上，用于接入所述待测开关；每个所述发光二极管与一对所述待测开关接入点串联，并由所述控制模块提供工作电流；所述控制模块包括控制芯片、吸收电感、补偿电容、第一下拉电阻和第二下拉电阻；所述控制芯片的电源电压输入端和信号电压输入端与所述供电模块的输出端连接，所述多对待测开关接入点并联且一端连接所述控制芯片的输出端，另一端各接入控制芯片的一个低功率恒流控制端；所述吸收电感一端与所述控制芯片的第一开关节点端连接，另一端与所述控制芯片的第二开关节点端连接；所述控制芯片的补偿端通过所述补偿电容接地；所述控制芯片的高功率编程端通过所述第一下拉电阻接地；所述控制芯片的低功率编程端通过所述第二下拉电阻接地；所述控制芯片的第一信号接地端、第二信号接地端、功率接地端及散热接地端均接地。