[发明专利]航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法有效

专利信息
申请号: 201210511213.1 申请日: 2012-12-03
公开(公告)号: CN102981081A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 王群勇;冯颖;阳辉;白桦 申请(专利权)人: 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M3/00;G01M99/00
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100089 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及热真空环境适应性的评价技术领域,公开了一种航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法,包括以下步骤:S1.对航天器用元器件热真空环境进行应力分析,确定热真空环境地面试验的真空应力、热应力和电应力;S2.确定热真空地面试验的循环次数;S3.根据步骤S1和S2确定的试验条件对航天器用元器件进行热真空地面试验,以判定航天器用元器件样品是否合格;S4.若不合格样品数小于等于抽样方案规定的合格判定数,则评价所试验的该批元器件的热真空环境适应性满足任务要求;否则评价为不满足任务要求。本发明能够快速、准确的评价航天器用元器件在热真空环境下的性能,为合理选择航天器用元器件产品提供了依据。
搜索关键词: 航天 器用 元器件 真空 环境 适应性 评价 方法
【主权项】:
一种航天器用元器件热真空环境适应性的评价方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、对航天器用元器件热真空环境进行应力分析,确定热真空环境地面试验的真空应力、热应力和电应力;S2、确定热真空地面试验的循环次数;S3、根据步骤S1和S2确定的试验条件对航天器用元器件进行热真空地面试验,以判定航天器用元器件样品是否合格,所述试验条件包括所述真空应力、热应力、电应力和循环次数;S4、若不合格样品数小于等于抽样方案规定的合格判定数,则评价所试验的该批元器件的热真空环境适应性满足任务要求;否则评价为不满足任务要求。
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