[发明专利]一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法有效
| 申请号： | 201210512499.5 | 申请日： | 2012-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN103076557A | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 陈莉明;董攀;郑宏超;飞海东;王兴友;祝长民;范隆;岳素格;杜守刚;马建华;王煌伟;陈茂鑫;文圣泉;毕潇 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，步骤为：首先利用SPARCV8处理器和Spacewire电路分别建立两套测试系统，两套测试系统通过各自的Spacewire电路建立数据传输通道。然后将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中。设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因。本发明方法可为开展单粒子效应与微电子器件相关研究提供依据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 spacewire 电路 粒子 功能 中断 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种Spacewire电路单粒子功能中断测试方法，其特征在于步骤如下：(1)将SPARC V8的软核烧写入FPGA内部，形成硬件SPARC V8微处理器；(2)利用SPARC V8处理器A和Spacewire电路A建立通讯联系构成测试系统A，利用SPARC V8处理器B和Spacewire电路B建立通讯联系构成测试系统B，Spacewire电路A和Spacewire电路B建立通讯联系构成测试系统A和测试系统B的数据传输通道；(3)在两个测试系统内部，分别利用各自的SPARC V8处理器初始化各自Spacewire电路的寄存器以及通讯通道；(4)将Spacewire电路B置于粒子辐照环境中；(5)设定数据传输路径为测试系统A向测试系统B发送数据，测试系统B接收到数据后将接收到的数据再次转发给测试系统A；数据传输开始后，如果测试系统A无法向测试系统B发送数据或者测试系统A无法从测试系统B获取转发数据，则判断Spacewire电路B发生单粒子功能中断，进入下一步；(6)测试系统A回读Spacewire电路B的寄存器的信息，如果测试系统A能够成功回读Spacewire电路B的寄存器的信息，则判定Spacewire电路B的寄存器发生了功能中断，根据回读的Spacewire电路B的控制寄存器的数据分析造成功能中断的原因；如果测试系统A无法回读Spacewire电路B的控制寄存器的信息，则判定Spacewire电路B的仲裁器发生了功能中断。
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