[发明专利]一种同轴度光学检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210524925.7 申请日: 2012-12-10
公开(公告)号: CN102997870A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 程晋明;钱伟新;祁双喜;李泽仁;刘冬兵;王婉丽;彭其先 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 徐宏;吴彦峰
地址: 621000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种同轴度检测领域,尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点,本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法,该方法可以实现非接触测量,且测量精度较高。同时由计算机处理图像,检测快速,可大大提高圆杆的同轴度检测效率。本发明通过检测采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号得到θ1、θ2等参数计算基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数、轴线夹角参数。本发明应用于同轴度检测领域。
搜索关键词: 一种 同轴 光学 检测 方法 装置
【主权项】:
一种同轴度光学检测方法,其特征在于包括步骤1:第一光学检测装置、第二光学检测装置分别采集基准圆杆与相向圆杆数字图像信号;步骤2:处理器接收第一光学检测装置采集的数字图像信号,获得基准圆杆与相向圆杆轴线第一夹角θ1、基准圆杆与相向圆杆的轴线第一偏移分量y1、由第一光学检测装置对基准圆杆的检测直径值D1;处理器接收第二光学检测装置采集的数字图像信号,获得基准圆杆与相向圆杆轴线第二夹角θ2、基准圆杆与相向圆杆的轴线第二偏移分量y2、由第二光学检测装置对基准圆杆的检测直径值D2,计算得到基准圆杆与相向圆杆的同轴度轴线偏移参数d、轴线夹角参数θ。
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