[发明专利]载物台平移测量装置及测量方法有效
申请号: | 201210525294.0 | 申请日: | 2012-12-07 |
公开(公告)号: | CN103868456A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 徐文;许琦欣 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 这种载物台平移测量装置,用于测量所述载物台沿第一轴的位移,包括干涉仪、第一轴测量单元、第二轴测量单元以及处理单元,第一轴测量单元包括棱镜和测量镜,棱镜具有入射面和出射面,测量镜安装于载物台的侧面,测量镜具有折射面和反射面,入射面和出射面的夹角与折射面和反射面之间的夹角相等且均大于0度,棱镜与测量镜的折射率相同,第二轴测量单元包括X轴反射镜,干涉仪中发出的第一测量光束,经过棱镜后以一定角度入射到测量镜的折射面,经过折射后正入射到测量镜的反射面后能够被原路返回;干涉仪发出的第二测量光束,经X轴反射镜反射后能够原路返回,处理单元获得载物台沿第一轴的位移。本发明具有结构简单,测量精度高的优点。 | ||
搜索关键词: | 载物台 平移 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
一种载物台平移测量装置,用于测量所述载物台沿第一轴的位移,其特征在于,包括干涉仪、用于测量所述载物台在第一轴和第二轴所在的平面进行位移前后第一测量光束的光程的改变量的第一轴测量单元、用于测量所述载物台同时沿第二轴位移前后第二测量光束的光程的改变量的第二轴测量单元以及处理单元。
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