[发明专利]一种压电晶片谐振频率测定方法有效
| 申请号： | 201210527953.4 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103063292A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 张昭;肖迎春;李闵行;白玮;杜振华;郭佳;王倩 | 申请（专利权）人： | 中国飞机强度研究所 |
| 主分类号： | G01H11/06 | 分类号： | G01H11/06 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 710065*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于航空材料性能检测领域，涉及一种压电晶片谐振频率测定方法。本方法采用短时高压脉冲法对压电晶片进行激励，压电晶片发生响应振动，高压脉冲为宽频激励，压电晶片的振动为选择性响应，其振动频率即为其谐振频率。本方法采用纯时域算法，直接简便，干扰因素少，精度高。一定形状的压电晶片对应不止一个谐振频率，例如圆形晶片，有高频的厚度模振动谐振频率和低频的径向模谐振频率，本发明提供的方法可以全面测定不同方向模振动的谐振频率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 压电 晶片 谐振 频率 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种压电晶片谐振频率测定方法，其特征在于，包括以下步骤：对压电晶片进行短时高压脉冲激励的步骤：短时高压脉冲的脉冲宽度τ通过公式（1）确定，激励最大电压在200‑450V之间； τ = 1 2 N f - - - ( 1 ) 其中，Nf为压电晶片振动模方向的频率常数，l为振动模方向的尺寸；记录压电晶片响应振动信号的步骤：采用示波器或高速数采系统进行记录；分析计算压电晶片谐振频率的步骤：首先计算相邻两个波峰之间的时间间隔Δt，也即第一波峰与第二波峰、第二波峰与第三波峰、第三波峰与第四波峰之间的时间间隔Δt，然后再根据Δt计算该振动模方向的谐振频率，计算方法如式（2）； f = 1 Δt - - - ( 2 )
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