[发明专利]一种进程的内存溢出测试方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201210528416.1 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103049376A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | 汪文俊;闫昊 | 申请（专利权）人： | 北京小米科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100102 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种进程的内存溢出测试方法、装置及设备，其中，方法包括以下步骤：检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的进程确定为被测试进程；调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间，使所述被测试进程发生内存溢出。本发明实施例通过检测进程的内存使用量确定被测试进程，并通过调低操作系统为进程预设的最大可使用堆空间来使被测试进程发生内存溢出，可以使存在内存泄漏问题的进程尽快地发生内存溢出，从而便于开发人员对存在内存泄漏问题的程序进行改进。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 进程 内存 溢出 测试 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
一种进程的内存溢出测试方法，其特征在于，包括以下步骤：检测操作系统中各进程的内存使用量，将内存使用量满足预设条件的进程确定为被测试进程；调低所述操作系统为进程预设的最大可使用堆空间，使所述被测试进程发生内存溢出。
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