[发明专利]一种可获得高抛光速率的单晶硅晶圆片抛光工艺有效

专利信息
申请号: 201210534575.2 申请日: 2012-12-12
公开(公告)号: CN102962756A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 王丹;垢建秋;刘建伟;孙晨光;武卫 申请(专利权)人: 天津中环领先材料技术有限公司
主分类号: B24B29/02 分类号: B24B29/02
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300384 天津市西青区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种可获得高抛光速率的单晶硅晶圆片抛光工艺。在粗抛光工艺中采用美国杜邦SR330粗抛光液,与纯水稀释比例为1:20~1:40,流量为24.0±0.5L/min,采用罗门哈斯SUBA600抛光垫,粗抛光工艺分成三个步骤:1.使用粗抛光液进行抛光,抛光时间10s;大盘转速25±2rpm;中心导轮转速50±2rpm;压力50±3kPa;2.使用粗抛光液进行抛光,抛光时间10±3min;大盘转速40±2rpm;中心导轮转速80±2rpm;压力150±50kPa;3.使用纯水进行抛光,抛光时间40s;大盘转速25±2rpm;中心导轮转速50±2rpm;压力50±3kPa。采用本工艺加工的抛光片,去除速率达到1.83~2.09μm/min,远高于同行业1μm/min的平均水平,同时合格率可以稳定达到90%以上;抛光片产能的提升降低了固定成本,从而满足国内外市场的需求。
搜索关键词: 一种 可获得 抛光 速率 单晶硅 晶圆片 工艺
【主权项】:
一种可获得高抛光速率的单晶硅晶圆片抛光工艺,其特征在于,在粗抛光工艺中采用美国杜邦SR330粗抛光液,将该粗抛光液与纯水稀释比例为1:20~1:40,稀释后的粗抛光液流量为24.0±0.5L/min,并采用罗门哈斯SUBA600抛光垫,所述粗抛光工艺分成三个步骤进行抛光,其各个步骤设定的工艺参数如下:步骤一:使用粗抛光液进行抛光,抛光时间10s;大盘转速25±2rpm;中心导轮转速50±2rpm;压力50±3kPa; 步骤二:使用粗抛光液进行抛光,抛光时间10±3 min;大盘转速40±2rpm;中心导轮转速80±2rpm;压力150±50kPa;步骤三:使用纯水进行抛光,抛光时间40s;大盘转速25±2rpm;中心导轮转速50±2rpm;压力50±3kPa。
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