[发明专利]一种磁盘阵列测试方法以及一种磁盘阵列无效
申请号: | 201210535084.X | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN103019901A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 李文杰 | 申请(专利权)人: | 创新科存储技术有限公司;创新科存储技术(深圳)有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 谢安昆;宋志强 |
地址: | 100191 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种磁盘阵列测试方法:确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘;获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡,每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分;用获取到的各磁盘模拟卡得到所述磁盘阵列;向所述磁盘阵列发送测试信号,并获取所述磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。本发明同时公开了一种磁盘阵列。应用本发明所述方案,能够提高测试结果的准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 磁盘阵列 测试 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种磁盘阵列测试方法,其特征在于,包括:确定得到待测试的磁盘阵列所需的磁盘;获取每个磁盘分别对应的磁盘模拟卡,每个磁盘模拟卡中仅保留有对应的磁盘中的信号处理部分;用获取到的各磁盘模拟卡得到所述磁盘阵列;向所述磁盘阵列发送测试信号,并获取所述磁盘阵列对接收到的测试信号进行处理后返回的测试结果。
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