[发明专利]高精度判别测角仪器的误差源的方法无效

专利信息
申请号: 201210535912.X 申请日: 2012-12-12
公开(公告)号: CN103017791A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 孟庆华 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 南小平
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 高精度判别测角仪器的误差源的方法,属于精密仪器测量技术领域,该方法为:由两个反射面法线建立基准线,基准线的误差小于1";调整双面平面反射镜和0.2"自准光管,使双面平面反射镜的两个反射面分别对0.2"自准光管进行对准,转动测角仪器的转台,记下两次对准后测角仪器编码器的读数;观察两次对准的编码器角度差值偏离180°的情况,若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求在允许偏差内,则影响测量精度的误差源是光学瞄准系统;若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求不在允许偏差内,则影响测量精度的误差源是轴或编码器。该方法具有高测量精度、所占空间小、操作方便的优点,可应用于大型经纬仪和靶场测量。
搜索关键词: 高精度 判别 仪器 误差 方法
【主权项】:
高精度判别测角仪器的误差源的方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:步骤一:在测角类仪器的转台上固定一双面平面反射镜,平面反射镜两个反射面平行度小于1",由两个反射面法线建立基准线,基准线的误差小于1";步骤二:调整双面平面反射镜和0.2"自准光管,使双面平面反射镜的两个反射面分别对0.2"自准光管进行对准,转动测角类仪器的转台,记下两次对准测角仪器编码器的读数;步骤三:观察两次对准的编码器角度差值偏离180°的情况,若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求在允许偏差内,则表明轴系误差、编码器误差满足要求,影响测量精度的误差源是光学瞄准系统;若测得的偏离值根据测角仪器总体精度分配要求不在允许偏差内,则表明影响测量精度的误差源是轴系或编码器;从而完成判别测角仪器的误差源的方法。
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