[发明专利]电子元件检测试验监控系统有效
| 申请号： | 201210536022.0 | 申请日： | 2012-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN103018605A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 王晓晗;王祖文;陈波;蒋劲刚;农冠勇 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01K7/18;H04N7/18 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王茹;曾旻辉 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电子元件检测试验监控系统，包括：数据采集模块和数据处理模块，数据采集模块用于采集检测试验的监控数据，数据处理模块用于处理采集到的监控数据，得出监控结果，数据采集模块包括试验参数采集模块和试验条件采集模块，试验参数采集模块用于采集电参数，试验条件采集模块用于采集环境数据和视频数据，本发明电子元件检测试验监控系统工作，同时监控整个检测试验过程中的电参数、环境数据和视频数据，实现了对整个电子元件检测试验全面监控，这种全面监控能真实反映现场试验的细节，使监控更加符合实际。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 检测 试验 监控 系统 | ||
【主权项】：
一种电子元件检测试验监控系统，其特征在于，包括：数据采集模块和数据处理模块，所述数据采集模块与所述数据处理模块相连，所述数据采集模块用于采集所述电子元件检测试验的监控数据，所述数据处理模块用于处理采集到的所述电子元件检测试验的监控数据，得出所述电子元件检测试验的监控结果；所述数据采集模块包括试验参数采集模块和试验条件采集模块，所述试验参数采集模块用于采集试验参数，所述试验参数包括电参数，所述试验条件采集模块用于采集试验条件数据，所述试验条件数据包括环境数据和视频数据。
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