[发明专利]一种导电结构表面多裂纹的涡流检测探头及其检测方法无效
| 申请号： | 201210538929.0 | 申请日： | 2012-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN103868987A | 公开（公告）日： | 2014-06-18 |
| 发明（设计）人： | 张思全;刘雨 | 申请（专利权）人： | 上海海事大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人： | 张民华 |
| 地址： | 201306 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用阵列结构的电涡流探头，该电涡流探头用于检测金属导电结构表面多裂纹及类似缺陷。该电涡流探头由激励线圈阵列和检测线圈阵列组成，激励线圈阵列和检测线圈阵列都含有与被检测结构表面相平行的平面线圈及与被检测结构表面相垂直的垂直方向线圈。平面检测线圈位于平面激励线圈内部且二者都与被检测结构表面平行，垂直方向检测线圈与垂直方向激励线圈平面间呈90°夹角。垂直方向检测线圈通过感测平面激励线圈产生的涡电流受到裂纹扰动而引起的变化，可检测与垂直方向检测线圈相平行的裂纹，平面检测线圈通过感测垂直方向激励线圈产生的磁通受到裂纹扰动而引起的变化，可检测与垂直方向激励线圈相平行的裂纹。通过探头一次扫查可以检测导电结构表面一定区域内邻近分布的多个裂纹等缺陷的存在，并可根据各检测线圈获得缺陷信号特征判断裂纹数量、方向及长、宽、深度等形状信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 导电 结构 表面 裂纹 涡流 检测 探头 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种检测金属结构表面多裂纹缺陷的涡电流探头，其特征在于：包括有激励线圈阵列与检测线圈阵列；激励线圈阵列由与被检测结构(5)表面平行的平面线圈阵列(1a)、(1b)和与被检测结构(5)表面垂直的线圈(2a)、(2b)、(2c)组成；检测线圈阵列由与被检测结构(5)表面平行的平面线圈阵列(4a)、(4b)、(4c)、(4d)、(4e)、(4f)、(4g)、(4h)和与被检测结构(5)表面垂直的线圈阵列(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)组成。
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