[发明专利]量化存储器位单元的读取和写入裕量

摘要

本发明涉及量化存储器位单元的读取和写入裕量。其中，一种包括一个或多个存储器位单元的集成电路包括用于相对彼此改变施加给位单元的供电轨的电压和施加给字线驱动器的电压以有利于对读取和写入裕量进行改进的筛选的电路。在正常操作中，字线驱动器以及位单元的供电轨标称地相同。在写入裕量测试模式下，字线驱动器供电轨上的电压小于位单元供电轨上的电压。在读取裕量测试模式下，字线驱动器供电轨上的电压大于位单元供电轨上的电压。分别针对读取和写入裕量，老化效应和操作条件的测试范围可以通过对字线和阵列功率之间不同的电压增量进行调整来实现。

主权项

一种操作集成电路的方法，所述集成电路具有外围电路并具有包括多个位单元和与所述多个位单元耦接的至少一个字线的存储器阵列，所述方法包括：在标称电压下操作所述外围电路；在正常的存储器事务期间，在标称电压下操作所述多个位单元和所述字线；在读取裕量测试操作期间，在大于所述多个位单元的工作电压的电压下操作字线驱动器；以及在写入裕量测试操作期间，在小于所述多个位单元的工作电压的电压下操作所述字线驱动器。