[发明专利]一种湿法去除冶金级硅中杂质B的方法有效

专利信息
申请号: 201210539824.7 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN102992326A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 谢克强;马文会;麦毅;魏奎先;周阳;伍继君;吕国强;朱文杰;刘大春;杨斌;戴永年 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 650093 云*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 发明提供一种湿法去除冶金级硅中杂质B的方法,将冶金级硅破碎细磨成-100~-600目的硅粉;按液固比为2:1~10:1加入到由氯化铵、氟化钠和甲醇组成的混合水溶液中,再加热至40~100℃进行搅拌浸出0.5~7h;然后进行液固分离后,再将滤饼用水洗涤数次至中性后烘干,即得到除杂质B的冶金级硅。是一种设备简单,操作容易,能耗少,成本低的去除杂质B的方法,既不需要高压条件,也不需要高温,在常压低温中进行,不需要特殊的设备,常规的搅拌反应釜就适合工艺要求。该方法是一种简单有效的去除冶金级硅中的B的方法,浸出液可循环使用,操作简单、成本低。
搜索关键词: 一种 湿法 去除 冶金 级硅中 杂质 方法
【主权项】:
一种湿法去除冶金级硅中杂质B的方法,其特征在于经过下列各步骤:(1)将冶金级硅破碎细磨成‑100~‑600目的硅粉;(2)将步骤(1)的硅粉按液固比为2:1~10:1加入到由氯化铵、氟化钠和甲醇组成的混合水溶液中,再加热至40~100℃进行搅拌浸出0.5~7h;(3)将步骤(2)的混合物进行液固分离后,再将滤饼用水洗涤数次至中性后烘干,即得到除杂质B的冶金级硅。
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