[发明专利]光电系统快速自校准用标准综合靶板和测量方法有效

专利信息
申请号: 201210544321.9 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103256862A 公开(公告)日: 2013-08-21
发明(设计)人: 南瑶;李勤学;候春屏;贾选军;桑鹏;刘瑞星;常伟军;陈秀萍 申请(专利权)人: 中国兵器工业第二0五研究所
主分类号: F41J5/04 分类号: F41J5/04;G01M11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710065 陕西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种光电系统快速自校准用标准综合靶板及其测量方法,主要技术特点是,标准综合靶板包括基板、图案、基底、压圈,依次紧压封装在一个壳体内,图案由金属膜上刻蚀的三角形分布通孔阵列填充微纳米显示粉构成;标准综合靶板放置于被测光电系统的光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处),光电系统瞄准标准综合靶板发射激光,标准综合靶板的图案反射激光光斑图像且瞬时辐射可见光、红外的激光光斑图像,被测光电系统接收并存储数字图像,计算数字图像中通孔及三角形互补阵列的几何中心和直线长度,与理论值比对获得光电系统的数字图像校正函数、分辨率、照射精度、跟踪角速度、跟踪精度参数。
搜索关键词: 光电 系统 快速 校准 标准 综合 测量方法
【主权项】:
一种标准综合靶板,包括基板(1)、图案(2)、基底(3)、压圈(4),依次紧压封装在一个壳体(5)内,其特征在于:所述基板(1)是激光、可见光、红外辐射透射的光学平板,所述图案(2)由附着在基板(1)上的金属膜层(21)、微纳米显示粉(22)构成,所述金属膜层(21)是单层金属膜或多层金属膜,多层金属膜的熔点从紧靠基板(1)逐渐降低且热导率逐渐增大,所述金属膜(21)上刻蚀直径相同的通孔阵列,相邻的通孔中心构成正三角形,相邻通孔之间的三角形区域金属膜将各个通孔隔离,且三角形的角尖处逐渐变细且相互连接,构成图案(2)的最细处,其线条的宽度w等于通孔间距减去通孔直径,该三角形区域构成对激光辐照反射激光图像和瞬时辐射红外图像的区域,所述微纳米显示粉(22)填充在通孔内,是对激光辐照转换成可见光的微纳米粉料,所述基底(3)为金属平板,紧靠图案(2)的一面为光面;所述壳体(5)为一端有底的空心管,且底上有通孔;所述压圈(4)与壳体(5)固连;激光穿过基板(1)辐照图案(2),图案(2)中的三角形区域金属膜(21)反射和吸收激光能量,吸收的激光能量使金属膜(21)的温度迅速升高,同时辐射红外图像,微纳米显示粉(22)吸收激光能量辐射可见光图像,紧压图案(2)的基底(3)光面上的微观结构顶端与图案(2)的金属膜(21)构成快速热传导通道,使金属膜(21)受激光辐照导致温升的热量快速传导到基底(3)上,红外辐射和热传导使金属膜(21)的温度快速降低,红外辐射图像快速变化直至消失,实现激光光斑的瞬时辐射红外图像。
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