[发明专利]一种晶体管及其制造方法有效
申请号: | 201210544375.5 | 申请日: | 2012-12-14 |
公开(公告)号: | CN103000674B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 吴东平;付超超;张世理;张卫 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L29/417 | 分类号: | H01L29/417;H01L29/43;H01L21/28 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 | 代理人: | 卢刚 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 晶体管具有倒置异质结结构,其中,在形成基极层和集电极层之前形成发射极层。通过为关键的基区形貌和掺杂分布控制提供更好的热预算,可以获得更高的截止频率(fT);通过最小化集电区和基区的接触面积,可以显著减少寄生电容、提高最高振荡频率(fmax)。这样可以显著提高晶体管的频率特性。这种倒置的异质结结构,可以采用ALE工艺通过在预先形成的外延单晶金属硅化物上形成发射极层,在发射极层上形成基极层,在基极层上形成集电极层制备得到。 | ||
搜索关键词: | 一种 晶体管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种晶体管,其特征在于,包含:位于半导体衬底上单晶外延金属硅化物层;形成在所述金属硅化物层上的单晶硅发射极;形成在所述发射极上的基极;和形成在所述基极上的单晶硅集电极;淀积在所述发射极、基极和集电极之上的绝缘介电层,形成在绝缘介电层内的接触孔;形成在发射极、基极和集电极上对应所述接触孔所在位置的接触区;其中,所述晶体管具有集电极更靠近晶体管表面的倒置结构。
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