[发明专利]一种用于检测作物冠层叶片碳氮比的光谱指数构造方法有效

专利信息
申请号: 201210545190.6 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103048276A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 徐新刚;赵春江;宋晓宇;杨贵军;杨小冬;顾晓鹤;杨浩;龙慧灵;董燕生;张竞成;冯海宽 申请(专利权)人: 北京农业信息技术研究中心
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100097 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于检测作物冠层叶片碳氮比的光谱指数构造方法,所述方法包括步骤:(1)获取作物冠层500nm~910nm波段范围的高光谱原始反射率数据;(2)利用获取的作物冠层原始反射率计算相对反射率;(3)计算相对反射率光谱曲线中500nm~550nm、680nm~760nm以及760nm~910nm三个子波段范围光谱曲线的斜率;(4)构建用于检测作物冠层叶片碳氮比的光谱指数RCN。采用本发明构造的光谱指数进行作物冠层叶片碳氮比的检测,可以消除光照条件差异对碳氮比检测的影响,同时还可避免已有光谱指数所存在的相邻波长反射率间存在高度相关的问题。
搜索关键词: 一种 用于 检测 作物 叶片 光谱 指数 构造 方法
【主权项】:
一种用于检测作物冠层叶片碳氮比的光谱指数构造方法,其特征在于,所述光谱指数构造方法包括以下步骤:(1)获取作物冠层500nm~910nm波段范围的高光谱原始反射率数据;(2)利用获取的作物冠层原始反射率计算相对反射率;(3)计算相对反射率曲线中500nm~550nm、680nm~760nm以及760nm~910nm三个子波段范围光谱曲线的斜率;(4)构建用于检测作物冠层叶片碳氮比的光谱指数RCN。
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