[发明专利]一种能量色散X射线荧光分析快速判断方法

摘要

本发明为一种能量色散X射线荧光分析快速判断方法。一般的X射线荧光分析仪分析软件中，传感器的数据采集过程和分析过程是分开的，即首先完成样品信号的数据采集，采集时间人为设定，采集完成后再进行样品的分析。本发明中将传感器的数据采集过程和元素成分分析过程结合在一起，按照一定设定时间步长，每到一个时间步长就分析一次，将本次结果和上一次分析结果进行比较，设定误差限和最多步长数，如果在线分析达到设定误差限，采样结束，如果采样时长达到了设定的最多步长数，采样也结束。最后的结果再进行一次细分析，从而得到检测结果。

主权项

1.一种能量色散X射线荧光分析快速判断方法，其特征是包括以下步骤：1)将对特征X射线的采集过程时间分成时间步长Step：Step＝5(s)规定最多步长M。设样本中有元素E_i，对应谱线面积S_i(i＝1，2，...N)，元素的含量ΔE_i：ΔEi=SiΣj=1NSj]]>仪器对各元素测量误差为δ，设仪器可以分析的元素个数N，设每一个元素的测量误差为δ_i(i＝1，2，...N)，并且kδ≥δ_ik是一个系数，它可以在对标准样品做标定时得到。通常X射线的分析过程包含如下措施：谱平滑、背景扣除、寻峰、能量刻度和特征谱的拟合。2)按时间步长Step进行数据采集，特征X射线的采集由探测器完成；一旦采集时间到达一个步长即进行步骤3的工作；3)动态分析，在此过程中，为了加快处理速度，其对特征X射线谱线的分析只使用谱平滑、背景扣除、寻峰和特征谱的拟合等环节，也就是采用简化的分析过程。并据此计算谱线的面积变化和特征峰面积之比，该特征峰具体对应什么元素和含量并不在该环节中立即给出。4)在下一个时间步长到来后，再一次对特征X射线谱线进行动态分析，计算出谱线的面积及含量的百分比，将每一谱线含量的百分比ΔE_i和上一次计算结果ΔE’_i相对照，判断误差有没有达到需要的条件：|ΔE_i-ΔE’_i |≤kδ如果没有达到条件，继续2、3、4步，一旦达到条件或者达到了最多步长M，采集过程结束。5)对特征X射线谱线图做进一步完整的处理，包含完整的谱平滑、背景扣除、寻峰、能量刻度和特征谱的拟合等所有过程，并通过定量分析给出各元素的含量。