[发明专利]一种冗余数据检验方法有效

专利信息
申请号: 201210548064.6 申请日: 2012-12-18
公开(公告)号: CN103065041A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 邹光球;刘元议;张成煜;向春波;刘麟夫;胡蓉;李星;谢小鹏;姜文波;王凯;谢鹏;刘巍 申请(专利权)人: 湖南大唐先一科技有限公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 代理人: 胡山
地址: 410000 湖南省长沙市岳*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 一种冗余数据检验方法,包含以下步骤:冗余数据采集和序列构成,序列特征值检验,狄克松检验,偏差积检验,冗余数据状态信息提示。序列特征值检验和偏差积检验引入测量不确定度,避免了限值选取凭经验的随意性或繁琐性,使得检验参数设置有据可循,检验结果更加可靠。本发明的目的是提出一种能在计算机上实现,适用于任意情况的冗余数据准确性甄别的方法,且要求这种方法的甄别可靠性非常高。
搜索关键词: 一种 冗余 数据 检验 方法
【主权项】:
1.一种冗余数据检验方法,其特征是:包括以步骤:步骤(1):冗余数据序列构成判断测点的测量数据x0的准确性,按照测点分布和测量数据相关性确定冗余测点,通过数据采集程序采集n-1个冗余测量数据,生成数据个数为n序列,同时存储到list容器中;步骤(2):序列特征值检验计算序列平均值和样本标准差,判断样本标准差是否超出标准差上限值,若“否”则进入步骤(5),若“是”则进入步骤(3);步骤(3):狄克松检验先对数据个数大于2的序列进行排序,对序列最小值和最大值构造统计量,选定显著度,查询各统计量的临界值,如果统计量大于临界值则认为是异常点,同时剔除该点;剔除后的序列包含的数据个数如果小于3则停止检验且判断待检测数据是否还在剔除后序列中,再进入步骤(5);剔除后的序列包含的数据个数如果不小于3则继续构造统计量进行检验,当统计量都小于等于临界值且剔除后的序列包含的数据个数大于2,则进入步骤(4);步骤(4):偏差积检验利用冗余备份的测量仪表的测量结果的相对偏差来进行表决,偏差积定义为;偏差积中包括了测量仪表与其余各冗余备的相对偏差,不包括与测量仪表无关的任意两个测量仪表之间的相互偏差;比较偏差积和偏差积上限值,判断测量仪表的偏差积是否大于偏差积上限值,若“是”则剔除个数k累加1,若“否”则将数据存到list1容器中;对list容器中的所有的数据检验完毕后,判断检验过程剔除异点个数k是否小于n-2,若“否”则进入步骤(5);若“是”则继续判断x0是否在list1容器中,再进入步骤(5),同时以list1容器中序列平均值作为重构值;步骤(5):冗余数据状态信息提示依据特征值检验、狄克松检验和偏差积检验结果给出相应数据检验状态信息提示。
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