[发明专利]切片式高能离子束辐射成像系统无效
| 申请号： | 201210551048.2 | 申请日： | 2012-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN103063686A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 程锐;赵永涛;王瑜玉;周贤明;雷瑜;孙渊博;肖国青 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 高玉滨 |
| 地址： | 730030 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种切片式高能离子束辐射成像系统，包括能量衰减器、样品靶架装置和辐射图像获取装置；所述能量衰减器：对入射的高能离子能量进行精确调节；所述样品靶架装置：固定支撑样品并将样品的背景光线屏蔽；所述辐射图像获取装置：将上述经过能量衰减器调整后的高能离子束经过样品后投影的图像进行捕获。即利用一个前置式的可微调的能量衰减器，对不同能量的入射离子束产生辐射图像进行系统性纪录，并对得到的图像进行处理，对所纪录的不同辐射图像进行数学运算，以实现增强辐射图像对比度和对目标内部纵向分层结构信息的获取，最终得到目标样品的内部详细信息。达到操作简单、快捷并且辐射图像分辨率高、对比度好的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 切片 高能 离子束 辐射 成像 系统 | ||
【主权项】：
一种切片式高能离子束辐射成像系统，其特征在于，包括能量衰减器、样品靶架装置和辐射图像获取装置；所述能量衰减器：对入射的高能离子能量进行精确调节；所述样品靶架装置：固定支撑样品并屏蔽环境的背景光线；所述辐射图像获取装置：将上述经过能量衰减器调整后的高能离子束经过样品后投影的图像进行捕获。
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