[发明专利]降低等效电阻的硅电容器及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201210552154.2 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103022019A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 陈杰;唐剑平;雷鸣;陈立军 申请(专利权)人: 无锡纳能科技有限公司
主分类号: H01L23/64 分类号: H01L23/64;H01L21/02
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 32104 代理人: 曹祖良
地址: 214072 江苏省无锡市滨湖区蠡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种降低等效电阻的硅电容器,包括衬底,在衬底上表面形成多个凹槽,在衬底的上表面和凹槽的表面形成导电层,在导电层上设置介质层,在介质层上设置多晶层;所述导电层、介质层和多晶层依次设置在凹槽内,并且凹槽被多晶层填满;其特征是:在所述多晶层上设置金属层,金属层与多晶层欧姆接触;在所述金属层上设置绝缘隔离层,绝缘隔离层覆盖住下方的金属层、多晶层和介质层;在所述绝缘隔离层上设置第一连接孔和第二连接孔,在第一连接孔和第二连接孔处分别设置第一电极和第二电极,第一电极与导电层连接,第二电极与金属层接触。本发明在多晶层上覆盖金属铝,制造工艺简单,得到的电容器体积小、电容量大。
搜索关键词: 降低 等效 电阻 电容器 及其 制备 方法
【主权项】:
一种降低等效电阻的硅电容器,包括衬底,在衬底上表面形成多个凹槽,凹槽从衬底的上表面向下表面方向延伸;在所述衬底的上表面和凹槽的表面形成导电层,在导电层上设置介质层,在介质层上设置多晶层;所述导电层、介质层和多晶层依次设置在凹槽内,并且凹槽被多晶层填满;其特征是:在所述多晶层上设置金属层,金属层与多晶层欧姆接触;在所述金属层上设置绝缘隔离层,绝缘隔离层覆盖住下方的金属层、多晶层和介质层;在所述绝缘隔离层上设置第一连接孔和第二连接孔,第一连接孔的底部与导电层接触,第二连接孔的底部与金属层接触,在第一连接孔和第二连接孔处分别设置第一电极和第二电极,第一电极与导电层连接,第二电极与金属层接触,第一电极和第二电极之间由绝缘隔离层相隔离。
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