[发明专利]一种曝光装置及其调焦调平方法有效
申请号: | 201210552872.X | 申请日: | 2012-12-19 |
公开(公告)号: | CN103885295A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 李志丹;程雪;陈飞彪 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种投影曝光设备,具有掩模、投影物镜、工件台、硅片、光源、投影单元、探测单元、信号处理单元、主控制器,投影物镜用于将掩模的图案投影到位于工件台上的硅片的上表面,光源发出的光线经投影单元入射到硅片上,经由硅片的上表面反射后,被探测单元接收,信号处理单元对接收到的光信号进行处理并获得硅片上表面在当前测量区域的位姿信息,并将该信息传送给主控制器,其中,投影曝光设备在硅片上布置有多个测量光斑,有多个测量点布置在曝光场外部,在曝光场外部周围布置有若干测量光斑。 | ||
搜索关键词: | 一种 曝光 装置 及其 调焦 平方 | ||
【主权项】:
一种投影曝光设备,具有掩模、投影物镜、工件台、硅片、光源、投影单元、探测单元、信号处理单元、主控制器,投影物镜用于将掩模的图案投影到位于工件台上的硅片的上表面,光源发出的光线经投影单元入射到硅片上,经由硅片的上表面反射后,被探测单元接收,信号处理单元对接收到的光信号进行处理并获得硅片上表面在当前测量区域的位姿信息,并将该信息传送给主控制器,其中,所述投影曝光设备在硅片上布置有多个测量光斑,有多个测量点布置在曝光场外部,在曝光场外部周围布置有若干测量光斑。
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