[发明专利]一种外延片结构及其表面粗化的方法有效

专利信息
申请号: 201210554132.X 申请日: 2012-12-19
公开(公告)号: CN103887389B 公开(公告)日: 2017-10-31
发明(设计)人: 谢春林 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种外延片结构,包括衬底,及在衬底上依次形成的缓冲层、第一类型氮化物层、发光层和第二类型氮化物层,所述第二类型氮化物层包括依次形成在发光层之上的第一氮化物层和第二氮化物层,所述第二氮化物层为重掺杂氮化物层,所述第二氮化物层表面上分布有凹坑。本发明在外延片上增加重掺杂氮化物层,并在其表面进行化学腐蚀,由于重掺杂氮化物层掺杂杂质的浓度高,较易形成缺陷,有缺陷的地方腐蚀的速度较快,从而在外延片表面上形成凹坑,达到对外延片表面粗化的目的,有效的提高了外延片的出光效率。
搜索关键词: 一种 外延 结构 及其 表面 方法
【主权项】:
一种外延片表面粗化的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、提供衬底;S2、在衬底上形成缓冲层;S3、在缓冲层上形成第一类型氮化物层;S4、在第一类型氮化物层上形成发光层;S5、在发光层上形成第二类型氮化物层,所述第二类型氮化物层包括依次形成在发光层之上的第一氮化物层和第二氮化物层,所述第二氮化物层为重掺杂氮化物层,所述第二氮化物层掺杂Mg,Mg的掺杂浓度为1020/cm3~1022/cm3;S6、在所述第二氮化物层表面通过化学腐蚀形成凹坑。
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