[发明专利]一种有效减小大型结构件位移误差的测量方法有效

专利信息
申请号: 201210556856.8 申请日: 2012-12-20
公开(公告)号: CN103884305B 公开(公告)日: 2017-11-28
发明(设计)人: 廖敏;李鹏远;侯炳林;迟成芳;路东辉;刘彦波;王伟 申请(专利权)人: 核工业西南物理研究院;长春机械科学研究院有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02;G01B21/32
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 高尚梅,刘昕宇
地址: 610041 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明属于测量方法,具体涉及一种有效减小大型结构件位移误差的测量方法。它包括步骤一在被测量器件外设置传感器安装架;步骤二安装传感器;步骤三测量;对试样加载负荷,加载的负荷为预先设计的数值,利用下传感器和上传感器测量试样在受载后变形量,测量的同时记录两个传感器的测量数值,步骤四计算;上传感器和下传感器的数值相减,得到的数值即为试样的受力变形值,步骤五变形值误差修正;多次重复步骤三和步骤四,将多次测量的结果进行数值处理,得到的结果为修正后的变形值误差。本发明的显著效果是测量精度高,可以直接测量变形量。
搜索关键词: 一种 有效 减小 大型 结构件 位移 误差 测量方法
【主权项】:
一种有效减小大型结构件位移误差的测量方法,其特征在于:包括下述步骤:步骤一:在被测量器件外设置传感器安装架,设置一个位移传感器安放托架,所述位移传感器安放托架与加载框架独立,且所述位移传感器安放托架的底部远离加载框架的刚性底座,步骤二:在加载框架内设置被测量器件,安装传感器,步骤三:测量,对试样加载负荷,加载的负荷为预先设计的数值,利用下传感器和上传感器测量试样在受载后变形量,测量的同时记录两个传感器的测量数值,步骤四:计算,上传感器和下传感器的数值相减,得到的数值即为试样的变形量,该变形量能够被换算为变形值,步骤五:变形值误差修正,多次重复步骤三和步骤四,将多次测量的结果进行数值处理,得到的结果为修正后的变形值误差;所述的步骤二中的传感器包括上传感器和下传感器。
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