[发明专利]一种内存测试方法及嵌入式设备

摘要

本发明公开了一种内存测试方法及嵌入式设备，针对现有的内存测试代码在ROM中运行不能使用堆栈，只能使用寄存器，测试程序较为复杂，通用性不强的问题，本发明具体通过TLB映射改变待测试内存对应的物理内存空间，可以做到待测试内存区域的虚拟地址不变，而实际测试内存不同，通过两次内存测试可以覆盖全部内存空间。本发明的测试方法在不增加硬件成本的情况下，通过映射进行内存全面测试，测试程序实现简单，能够提升测试速度，并且内存测试程序在内存中运行，速度快，实现测试结果同步输出。

主权项

一种内存测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：A、嵌入式设备启动后，首先读取内存测试参数，再对系统进行硬件初始化；B、对读取的内存测试参数进行判断，如为第一测试参数，则利用转换后援缓冲区TLB映射将内存空间的第一部分映射为测试程序使用的内存空间，将剩余内存空间作为待测试内存，进入步骤C；如为第二测试参数，则利用TLB映射将内存空间的第二部分映射为测试程序使用的内存空间，将剩余内存空间作为待测试内存，进入步骤C；如为第三测试参数，则利用TLB映射将所有内存空间映射为系统应用程序使用的内存空间，内存测试结束；C、加载测试程序到对应的内存空间，并执行内存测试程序，启动对待测试内存的测试；D、内存测试程序完成对当前待测试内存的测试后，对内存测试参数进行判断，如为第一测试参数，则设置内存测试参数为第二测试参数，并重新启动嵌入式设备，进入步骤A；如为第二测试参数，则设置内存测试参数为第三测试参数，并重新启动嵌入式设备，进入步骤A。