[发明专利]测试座

摘要

一种在用于测试集成电路的改进的测试座。该测试座包括在其中形成一个或多个槽的壳体。可以将接触件容纳在相应的槽中并保持在其中，接触件的后端与负载板上的迹线接合。通过一对弹性体完成安装，并且该弹性体保持每个接触件，从而当接触件的前端与被测装置的导线或焊盘接合、并推进到其相应的槽中时，每个接触件的后端的弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨其相应的迹线滚动。

主权项

一种测试座，包括：‑具有通常与测试器负载板的表面接合的第一表面的壳体，所述壳体进一步具有通常与所述第一表面平行、间隔和相对的第二表面，并且在所述壳体中形成的至少一个槽通过所述壳体在所述第一表面和第二表面之间延伸；‑容纳在相应的槽中的接触件，所述接触件具有延伸出所述第二表面的前端，以便与被测装置的相应导线或焊盘接合，并且具有限定弓形表面的后端，所述弓形表面与所述测试器负载板的所述表面上的相应迹线接合；以及‑在所述相应的槽中弹性安装所述接触件的装置，其中，当所述接触件的所述前端与所述被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到相应的槽中时，所述弓形表面在实际上没有平移或旋转滑动的情况下横跨所述相应迹线滚动，其中，所述接触件的所述后端进一步限定渐成弧形的表面，所述渐成弧形的表面与所述弓形表面成角度地间隔，并且在所述槽内，所述壳体限定与所述接触件的所述后端的所述渐成弧形的表面接合的壁，这样，当所述接触件的所述前端与所述被测装置的导线或焊盘接合、并且推进到相应的槽中时，所述接触件的所述渐成弧形的表面沿所述壁移动，并且使所述弓形表面横跨相应迹线滚动。