[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板和显示装置有效
申请号: | 201210564245.8 | 申请日: | 2012-12-21 |
公开(公告)号: | CN103887343A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 谢振宇;徐少颖;李田生;阎长江;李靖;田宗民 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336;H01L27/12 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 武晨燕;张颖玲 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板和显示装置,所述薄膜晶体管包括:基板、栅电极、有源层、源漏电极、像素电极及一个或多个绝缘层,其中,至少一个绝缘层包括底层绝缘层及上层绝缘层,所述上层绝缘层中的氢含量高于所述底层绝缘层中的氢含量。本发明采用双层刻蚀阻挡层工艺制作薄膜晶体管,有效地降低了刻蚀阻挡层的氧化硅薄膜中的氢含量,避免硅烷分解产生的氢离子与有源层中的金属氧化物反应,使氧化物薄膜晶体管保持较优的特性,并提高了刻蚀阻挡层的薄膜沉积速率。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 及其 制作方法 阵列 显示装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:基板、栅电极、有源层、源漏电极、像素电极及一个或多个绝缘层,其特征在于,至少一个绝缘层包括底层绝缘层及上层绝缘层,所述上层绝缘层中的氢含量高于所述底层绝缘层中的氢含量。
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