[发明专利]测试分选机有效
申请号: | 201210564454.2 | 申请日: | 2012-12-21 |
公开(公告)号: | CN103185858A | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 吕东铉;崔宪植 | 申请(专利权)人: | 泰克元有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;B07C5/00;B07C5/02 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人: | 余朦;王艳春 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本申请公开了一种测试分选机,在该测试分选机中,推动单元的匹配板设置有具有位置校正功能的位置校正销,位置校正销可移动从正确位置偏离的测试托盘以使其回到正确位置,从而能够提高测试分选机的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 测试 分选 | ||
【主权项】:
测试分选机,包括:测试托盘,在从装载位置经由测试位置和卸载位置再次延伸至所述装载位置的预定循环路径中循环,并且所述测试托盘上安置有半导体装置;装载单元,当所述测试托盘位于所述装载位置时装载所述半导体装置;浸泡室,被设置为当所述装载单元完成装载时预加热或预冷却安置在所述测试托盘上被馈送的所述半导体装置;测试室,使从所述浸泡室馈送的安置在所述测试托盘的插入件上的所述半导体装置与所述测试器电接触;推动装置,被设置为通过将所述测试托盘附接至所述测试器,使安置在所述测试托盘上的所述半导体装置与所述测试器电接触;去浸泡室,用于将安置在从所述测试室馈送的所述测试托盘上的所述半导体装置回复到室温;以及卸载单元,用于将从所述去浸泡室馈送至所述卸载位置的所述测试托盘的半导体装置卸载,其中所述测试托盘包括:插入件,所述插入件上安置有半导体装置并且具有引导孔;以及框架,所述插入件安装在所述框架中,并且所述框架具有至少一个位置校正孔;以及所述推动装置包括:推动单元,所述推动单元支撑安置在所述插入件上的所述半导体装置,并且具有插入所述引导孔的导销;安装板,所述推动单元安装在所述安装板上,所述安装板具有插入所述至少一个位置校正孔的位置校正销以校正所述测试托盘的位置;以及移动源,被设置为使所述安装板朝向所述测试托盘向前 或向后移动。
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