[发明专利]具有垂直功率MOS晶体管的集成电路有效
申请号: | 201210568749.7 | 申请日: | 2012-12-24 |
公开(公告)号: | CN103594470A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | 伍震威;周学良;苏柏智;柳瑞兴 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L29/78;H01L21/8234 |
代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 | 代理人: | 章社杲;孙征 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了具有垂直功率MOS晶体管的集成电路,其中,该集成电路包括形成在相同半导体管芯中的多个横向器件和准垂直器件。准垂直器件包括两个沟槽。在第一漏极/源极区和第二漏极/源极区之间形成第一沟槽。第一沟槽包括形成在第一沟槽的底部中的介电层和形成在第一沟槽的上部中的栅极区。第一沟槽和第二沟槽形成在第二漏极/源极区的相对侧上。第二沟槽耦合在第二漏极/源极区和隐埋层之间,其中,第二沟槽具有与第一沟槽相同的深度。 | ||
搜索关键词: | 具有 垂直 功率 mos 晶体管 集成电路 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,包括:第一垂直晶体管,包括:形成在第一导电性的衬底之上的第二导电性的第一区;自所述第一区生长的第二区;形成在所述第二区中的所述第一导电性的第三区;形成在所述第三区中的所述第二导电性的第一漏极/源极区;第一沟槽,包括:形成在所述第一沟槽的底部中的介电层;和形成在所述第一沟槽的上部中的栅极区;所述第二导电性的第二漏极/源极区,形成在所述第二区中并且所述第二漏极/源极区与所述第一漏极/源极区位于所述第一沟槽的相对侧;和第二沟槽,耦合在所述第二漏极/源极区和所述第二区之间,所述第二沟槽的深度与所述第一沟槽的深度相同;以及多个横向晶体管,形成在所述衬底之上的所述第二区中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的