[发明专利]ECR-PEMOCVD低温沉积Ga、Al共同掺杂ZnO薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210576471.8 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN103014655A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 张东;张铁岩;赵琰;郑洪;李显材;李双美;张晓慧;赵丹 申请(专利权)人: 沈阳工程学院
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/44
代理公司: 沈阳东大专利代理有限公司 21109 代理人: 李运萍
地址: 110136 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 一种ECR-PEMOCVD低温沉积Ga、Al共同掺杂ZnO薄膜的制备方法,属于新材料沉积制备领域。本发明按照以下步骤进行:(1)将基片用丙酮、乙醇以及去离子水用超声波依次清洗后,用氮气吹干送入反应室;(2)将反应室抽真空至1.0×10-3Pa,将基片加热至20~600℃,向反应室内通入氩气携带的二乙基锌、氩气携带的三甲基镓、氩气携带的三甲基铝和氧气,氧气、二乙基锌、三甲基镓和三甲基铝流量比为(100~150):(4~8):(1~2):1,由质量流量计控制;控制气体总压强为0.8~2.0Pa;在电子回旋共振频率为650W,反应30min~3h,得到Ga、Al共同掺杂ZnO光电透明导电薄膜。本发明的镓铝共同的掺杂ZnO的透明光电导电薄膜产品具有电阻率低,透光性能好、廉价、易于实现大面积生产的产业化的优势。
搜索关键词: ecr pemocvd 低温 沉积 ga al 共同 掺杂 zno 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种ECR‑PEMOCVD低温沉积Ga、Al共同掺杂ZnO薄膜的制备方法,其特征在于按照以下步骤进行:(1)将基片用丙酮、乙醇以及去离子水用超声波依次清洗后,用氮气吹干送入反应室;(2)采用ECR‑PEMOCVD系统,将反应室抽真空至1.0×10‑3 Pa,将基片加热至20~600℃,向反应室内通入氩气携带的二乙基锌、氩气携带的三甲基镓、氩气携带的三甲基铝和氧气,氧气、二乙基锌、三甲基镓和三甲基铝流量比为(100~150):(4~8):(1~2):1,由质量流量计控制;控制气体总压强为0.8~2.0Pa;在电子回旋共振频率为650W,反应30min~3h, 得到Ga、Al共同掺杂ZnO光电透明导电薄膜。
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