[发明专利]一种多能谱CT成像方法及成像系统有效
| 申请号： | 201210576561.7 | 申请日： | 2012-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN103900931A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张朋;赵云松;张慧滔 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学;东营市三英精密工程研究中心 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;朱世定 |
| 地址： | 100037 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多能谱CT成像方法及成像系统，所述多能谱成像方法包括对被测物体扫描、重建基材料的密度图像最终获取被测物体的电子密度、等效原子序数分布或被测物体对单能X射线的线性衰减系数分布。其中多能谱CT重建方法包括：为待重建基材料的密度图像赋初值；对估计图像进行正投影以获得投影估计值；估计重建图像的误差；利用重建图像误差的估计更新图像；重复上述步骤，直到重建的密度图像收敛。相应的，所述多能谱CT成像系统包括扫描模块、重建模块和统计模块，其中所述重建模块又包括初始化模块、投影模块、校正模块和更新模块。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多能 ct 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种多能谱CT成像方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：利用多能谱X射线对被测物体扫描，获取多色投影真实值；S2：根据真实的多色投影数据，获取被测物体中各基材料的重建密度图像；S3：根据各基材料的重建密度图像获得被测物体的电子密度和等效原子序数分布或被测物体对单能X射线的线性衰减系数分布。
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